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電子測(cè)量?jī)x表

頂日置 HIOKI LCR測(cè)試儀IM3536

日置 HIOKI LCR測(cè)試儀IM3536 DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz 測(cè)量時(shí)間：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
日置 HIOKI LCR
日置 HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3523

日置 HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3523 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。內(nèi)置比較器和BIN功能 2ms的快速測(cè)試時(shí)間
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